Ketvirtadienis, gruodžio 12 d.

Danija-Kgs. Lyngby: Laboratorinė, optinė ir precizinė įranga (išskyrus akinius)

Danija-Kgs. Lyngby: Laboratorinė, optinė ir precizinė įranga (išskyrus akinius)


I dalis: Perkančioji organizacija

    I.1) Pavadinimas ir adresai:

      Oficialus pavadinimas: Danmarks Tekniske Universitet - DTU
      Adresas: Anker Engelunds Vej 1
      Miestas: Kgs. Lyngby
      Pašto kodas: 2800
      Šalis: Danija
      Asmuo ryšiams: Katrine Freiesleben Petersen
      El-paštas: kafre@dtu.dk
      Interneto adresas (-ai):
      Pagrindinis adresas: http://www.dtu.dk

II dalis: Objektas

    II.1.1) Pavadinimas:

      Ultrafast Scanning Atomic Force Microscope

    II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

      38000000 Laboratorinė, optinė ir precizinė įranga (išskyrus akinius) ;

    II.1.3) Sutarties tipas:

      Prekės
;

    II.1.4) Trumpas aprašymas:

      DTU Physics has a group investigating the interaction of materials with solutions and gases, in the presence and absence of organic compounds. The work aims to understand and control reactions such as dissolution of the materials and the nucleation of secondary phases on the solid surfaces. For this work, we need an atomic force microscope, that is flexible, to allow developments in hardware and software.
      We require ultrafast scanning, as well as the classical slow and fast scanning, because many of the reactions are rapid. Routine atomic scale resolution is essential, as well as micrometre scale mapping, with a number of approaches that are available using a rapidly oscillating cantilever, including chemical force mapping. Fluid and gas cells, control of temperature and humidity will allow in situ experiments. Reliability of operation and cooperative arrangements for instrument and software modification, repair and maintenance are important.

    II.2) Aprašymas:

    II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

      38000000 Laboratorinė, optinė ir precizinė įranga (išskyrus akinius)
      38300000 Matuokliai
      38340000 Kiekio matavimo prietaisai
      38400000 Fizinių savybių nustatymo prietaisai
      38430000 Detektoriai ir analizės aparatai
      38432000 Analizės aparatai
      38500000 Tikrinimo ir bandymo aparatai
      38510000 Mikroskopai
      38512000 Joniniai ir molekuliniai mikroskopai
      38512200 Molekuliniai mikroskopai
      38514000 Tamsiafoniai mikroskopai ir mikroskopai su skenuojančiais zondais
      38514200 Mikroskopai su skenuojančiais zondais
      38519000 Įvairūs cheminių medžiagų junginiai (mikroskopams)
      38519300 Mikroskopų fotografavimo arba filmavimo priedai
      38540000 Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai
Svetainė yra atnaujinama. Galimi smulkūs nesklandumai.