Lenkija – Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai – Zakup systemu referencyjnego do pomiaru odchyłek kształtu

Lenkija – Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai – Zakup systemu referencyjnego do pomiaru odchyłek kształtu


I dalis: Perkančioji organizacija

    I.1) Pavadinimas ir adresai:

      Oficialus pavadinimas: Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki
      Adresas: ul. Warszawska 24
      Miestas: Kraków
      Pašto kodas: 31-155
      Šalis: Lenkija
      Asmuo ryšiams:
      El-paštas: zampub@pk.edu.pl
      Interneto adresas (-ai):
      Pagrindinis adresas: www.pk.edu.pl

II dalis: Objektas

    II.1.1) Pavadinimas:

      Zakup systemu referencyjnego do pomiaru odchyłek kształtu
      Nuorodos numeris: KA-2/150/2025

    II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

      38540000 Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai

    II.1.3) Sutarties tipas:

      Kita

    II.1.4) Trumpas aprašymas:

      Przedmiotem zamówienia jest zakup systemu referencyjnego do pomiaru odchyłek kształtu. Minimalne wymagania metrologiczne i konstrukcyjne: 1. Dokładność pomiaru okrągłości: ≤ 0,02 μm + 0,0004 μm/mm wysokości pomiaru (wg ISO 1101, filtr Gauss 15 W/U). 2. Rozdzielczość kątowa osi obrotowej: ≤ 0,0001°. 3. Zakres prędkości obrotowej stołu: od 0,5 do min. 200 obr./min, definiowana przez użytkownika 4. Najmniejsza odległość próbkowanych punktów pomiarowych osi poziomej i ponowej <= 1nm 5. Dokładność pozycjonowania osi pionowej, poziomej i obrotowej, określona zgodnie z ISO 230-2 (lub równoważną procedurą badawczą) ≤ 2 μm. 6. Obsługa dwóch technologii pomiarowych: czujnik stykowy i czujnik optyczny (np. chromatyczny sensor światła białego) umożliwiający pomiar geometrii prostych i asferycznych. 7. Stół referencyjny z łożyskowaniem mechanicznym o błędzie osiowym ≤ 0,04 μm (40 nm) w pełnym zakresie obciążenia roboczego, zapewniający stabilność położenia również w przypadku braku zasilania. 8. Integracja w jednym środowisku pomiarowym – pomiary stykowe i optyczne muszą być realizowane i analizowane w ramach jednego, oprogramowania metrologicznego, posiadającego moduły do analizy odchyłek kształtu oraz topografii powierzchni. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi Załącznik nr 1 do Zaproszenia. Projektowane postanowienia, które zostaną wprowadzone do treści zawieranej umowy w sprawie zamówienia publicznego zawiera Projekt umowy - Załącznik nr 3 do Zaproszenia.

II.2) Aprašymas:

    II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

      38540000 Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai
Svetainė yra atnaujinama. Galimi smulkūs nesklandumai.