Vokietija, VFR-Zwickau: Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai

Vokietija, VFR-Zwickau: Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Westsächsische Hochschule Zwickau
Adresas: Kornmarkt 1
Miestas: Zwickau
Pašto kodas: 08056
Šalis: Vokietija, VFR
Asmuo ryšiams:
El-paštas: Beschaffungswesen@fh-zwickau.de
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas: www.fh-zwickau.de

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Kombiniertes hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronen- und Raman- Mikroskop
Nuorodos numeris: ÖA-EU 05-21

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai ;

II.1.3) Sutarties tipas:

Prekės

II.1.4) Trumpas aprašymas:

1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System
1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)
1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 – 30 keV
1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)
1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr
1.6. Beam Deceleration (BD) Modus
1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb
1.8. Pumpensystem ölfrei
1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt)
1.10. Niedervakuum-SE-Detektor
1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor)
1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen
1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)
1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5)
1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)
1.16. Integrierter Plasmacleaner
1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)
1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°
1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand)
1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)
1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm
1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / “control panel“ / Konsole)
1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops
1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung,
Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)
und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.
Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:
2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 μm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche
2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung
2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder
2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)
2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)
2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)
und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai