Prancūzija – Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai – Marché pour la fourniture d’un microscope électronique en transmission 200 kV
Prancūzija – Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai – Marché pour la fourniture d’un microscope électronique en transmission 200 kV
I dalis: Perkančioji organizacija
I.1) Pavadinimas ir adresai:
Oficialus
pavadinimas: EDF SA
Adresas: 65 rue de la Perverie
Miestas: Nantes
Pašto
kodas: 44300
Šalis: Prancūzija
Asmuo
ryšiams:
El-paštas: celine.penela@edf.fr
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas: http://www.edf.fr
II dalis: Objektas
II.1.1) Pavadinimas:
Marché pour la fourniture d’un microscope électronique en transmission 200 kV
Nuorodos numeris: BPM012679
II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:
38540000
Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai
II.1.3) Sutarties tipas:
Kita
II.1.4) Trumpas aprašymas:
Le marché pour la fourniture d'un Microscope Electronique à Transmission 200 kV. Se décompose par une partie fourniture de l'appareil avec un garantie de 24 mois tout inclue et à la suite de cette garantie, Maintenance Préventive & Corrective tout inclus de l'appareil pour 5 années
Le Microscope Electronique à Transmission 200 kV
sera doté d'un :
• Canon à émission de champ (FEG) pour faciliter l'observation d'échantillons isolants et thermiquement fragiles. Le canon sera de type Cold FEG, ce dernier émet un faisceau de très forte brillance, possède une meilleure résolution spatiale (plus petite taille de spot) ainsi qu’une meilleure résolution en énergie avec une stabilité remarquable.
• Tension d’accélération de 200 kV, pouvant fonctionner à plus basse tension (80 kV et/ou en-dessous de 80 kV) ;
• Mode conventionnel C-TEM et mode balayage STEM ;
• La fourniture a minima de 2 porte-objets : un porte objet simple tilt rotation et d’un porte objet double tilt analytiques ;
• De détecteurs rétractables STEM (Bright Field, Dark Field, High Angle Annular Dark Field) ;
• D’une caméra pour MET imagerie conventionnel et diffraction électronique et compatible avec ASTAR ;
• Détecteur de photons X : EDX de type Silicon drift detector (SDD) en mode STEM/TEM ;
• Rétrocompatibilité avec le système acquisition et d’indexation automatique des diagrammes de diffraction (Automatic phase and orientation mapping, ASTAR).
En option (par ordre de priorité) :
• Deuxième caméra directe optimisée pour la diffraction et compatible avec ASTAR, dans ce cas la première camera CMOS sera optimisée pour l’imagerie (position en bas de colonne) et elle pourra ne pas être compatible avec ASTAR ;
• Un filtre en énergie permettant l’acquisition de spectres de perte d’énergie et d’images filtrées en énergie ;
• Insertion automatique du porte objet ;
• Rétrocompatibilité d’un filtre en énergie GIF Quantum d’un des deux MET existants actuellement au laboratoire ME (EDF R&D/MMC).
II.2) Aprašymas:
II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):
38540000 Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai