Lenkija – Tikrinimo ir bandymo aparatai – Wyłonienie wykonawcy w zakresie wykonania systemu NAP-XPS dla stacji badawczej dla potrzeb Narodowego Centrum Promieniowania Synchrotronowego SOLARIS w podziale na dwie części.

Lenkija – Tikrinimo ir bandymo aparatai – Wyłonienie wykonawcy w zakresie wykonania systemu NAP-XPS dla stacji badawczej dla potrzeb Narodowego Centrum Promieniowania Synchrotronowego SOLARIS w podziale na dwie części.

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Uniwersytet Jagielloński
Adresas: ul. Gołębia 24, 31-007 Kraków, Polska
Miestas: Kraków
Pašto kodas: 31-007
Šalis: Lenkija
Asmuo ryšiams:
El-paštas: bzp@uj.edu.pl
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas: https://www.uj.edu.pl/

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Wyłonienie wykonawcy w zakresie wykonania systemu NAP-XPS dla stacji badawczej dla potrzeb Narodowego Centrum Promieniowania Synchrotronowego SOLARIS w podziale na dwie części.
Nuorodos numeris: 80.272.367.2024

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38500000 Spektrometrai ;

II.1.3) Sutarties tipas:

Kita

II.1.4) Trumpas aprašymas:

Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wykonanie systemu NAP-XPS dla stacji badawczej dla potrzeb Narodowego Centrum Promieniowania Synchrotronowego SOLARIS (zwanego dalej NCPS SOLARIS), mieszczącego się w Krakowie, kod: 30-392, przy ul. Czerwone Maki 98 w podziale na dwie części: Część 1: dostawa systemu do rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów w warunkach podwyższonego ciśnienia (zwanego dalej system NAP-XPS) zawierającego w pełni wyposażoną komorę analityczną UHV, celę wysokociśnieniową, system pompowania do systemu NAP-XPS oraz system pompowania różnicowego do analizatora energii elektronów wraz z wymaganą elektroniką, a także instalacja całego systemu NAP-XPS. Część 2: dostawa i instalacja analizatora energii elektronów pod zwiększonym ciśnieniem (ang. Ambient Pressure Electron Energy Analyser) wraz z układem soczewek elektrostatycznych i detektorem typu cyfrowa kamera-MCP, umożliwiającym rejestrację widm XPS przy podwyższonym ciśnieniu.

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38500000 Tikrinimo ir bandymo aparatai
38433000 Spektrometrai