Italija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – PROCEDURA APERTA SOPRA SOGLIA COMUNITARIA AI SENSI DELL’ART. 71 DEL D. LGS. N. 36/2023 PER L’AFFIDAMENTO DELLA FORNITURA, INSTALLAZIONE E MESSA IN FUNZIONE DI UN MICROSCOPIO A FASCIO IONICO FOCALIZZATO (FIB) COMBINATO CON UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) PER LA PREPARAZIONE DI CAMPIONI PER MICROSCOPIA ELETTRONICA NELL’AMBITO DEL PNRR M4 C2 INVESTIMENTO 3.1 PROGETTO iENTRANCE@ENL
Italija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – PROCEDURA APERTA SOPRA SOGLIA COMUNITARIA AI SENSI DELL’ART. 71 DEL D. LGS. N. 36/2023 PER L’AFFIDAMENTO DELLA FORNITURA, INSTALLAZIONE E MESSA IN FUNZIONE DI UN MICROSCOPIO A FASCIO IONICO FOCALIZZATO (FIB) COMBINATO CON UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) PER LA PREPARAZIONE DI CAMPIONI PER MICROSCOPIA ELETTRONICA NELL’AMBITO DEL PNRR M4 C2 INVESTIMENTO 3.1 PROGETTO iENTRANCE@ENL
I dalis: Perkančioji organizacija
I.1) Pavadinimas ir adresai:
Oficialus
pavadinimas: Consiglio Nazionale delle Ricerche - Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati Sede di Bologna
Adresas: via Gobetti 101
Miestas: Bologna
Pašto
kodas: 40129
Šalis: Italija
Asmuo
ryšiams:
El-paštas: vittorio.morandi@cnr.it
Interneto adresas (-ai):
II dalis: Objektas
II.1.1) Pavadinimas:
PROCEDURA APERTA SOPRA SOGLIA COMUNITARIA AI SENSI DELL’ART. 71 DEL D. LGS. N. 36/2023 PER L’AFFIDAMENTO DELLA FORNITURA, INSTALLAZIONE E MESSA IN FUNZIONE DI UN MICROSCOPIO A FASCIO IONICO FOCALIZZATO (FIB) COMBINATO CON UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) PER LA PREPARAZIONE DI CAMPIONI PER MICROSCOPIA ELETTRONICA NELL’AMBITO DEL PNRR M4 C2 INVESTIMENTO 3.1 PROGETTO iENTRANCE@ENL
Nuorodos numeris: DEFAULT_VALUE_CHANGE_ME
II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:
38511100
Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai
II.1.3) Sutarties tipas:
Kita
II.1.4) Trumpas aprašymas:
MICROSCOPIO A FASCIO IONICO FOCALIZZATO (FIB) COMBINATO CON UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM), di seguito indicato come MICROSCOPIO FIB-SEM, per effettuare le seguenti attività principali:
- osservazione a risoluzione nanometrica di micro e nanostrutture mediante immagini di elettroni secondari, retrodiffusi e trasmessi;
- realizzazione completa e anche assistita da software di preparati sottili (lamelle) per le analisi con microscopia TEM, incluse la deposizione di strati protettivi da precursori gassosi, l’erosione e l’assottigliamento tramite fascio ionico focalizzato, il trasferimento tramite micromanipolazione;
- analisi morfologica e composizionale di strutture di interesse con risoluzione submicrometrica;
- sezionamento singolo o multiplo tramite sequenza controllata di strutture di interesse, ottenuta tramite deposizione di strati protettivi e l’erosione tramite FIB
II.2) Aprašymas:
II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):
38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai