Ispanija – Detektoriai ir analizės aparatai – Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregida JEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid

Ispanija – Detektoriai ir analizės aparatai – Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregida JEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid
Adresas:
Miestas: Madrid
Pašto kodas: 28040
Šalis: Ispanija
Asmuo ryšiams:
El-paštas: scont@ucm.es
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas: http://www.ucm.es/perfilcontratante

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregida JEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid
Nuorodos numeris: S-AB/2025/000127

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38430000 Detektoriai ir analizės aparatai

II.1.3) Sutarties tipas:

Kita

II.1.4) Trumpas aprašymas:

Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregidaJEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid, financiado por el Ministeriode Ciencia, Innovación y Universidades, la Agencia Estatal de Investigación y por la Unión Europea ( enmarcado en la actuaciónEQC2024-008160-P financiado por MCIU/ AEI / 10.13039/501100011033 / UE, FEDER) y por la Universidad Complutense de Madrid

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38430000 Detektoriai ir analizės aparatai