Ispanija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

Ispanija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Secretaría General de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Adresas:
Miestas: Madrid
Pašto kodas: 28006
Šalis: Ispanija
Asmuo ryšiams:
El-paštas: sgoi@csic.es
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas:

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Nuorodos numeris: 33622/25

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai

II.1.3) Sutarties tipas:

Kita

II.1.4) Trumpas aprašymas:

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai