Vokietija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Vokietija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Adresas: Hansastraße 27c
Miestas: München
Pašto kodas: 80686
Šalis: Vokietija
Asmuo ryšiams:
El-paštas: einkauf@zv.fraunhofer.de
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas: https://vergabe.fraunhofer.de/

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P
Nuorodos numeris: PR924050-2690-P

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai

II.1.3) Sutarties tipas:

Kita

II.1.4) Trumpas aprašymas:

Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38511100 Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai